Dla odwiedzających w Electronica 2024

Zarezerwuj swój czas teraz!

Wystarczy kilka kliknięć, aby zarezerwować twoje miejsce i zdobyć bilet na stoisko

Hall C5 Booth 220

Rejestracja z wyprzedzeniem

Dla odwiedzających w Electronica 2024
WSZYSTKO WSZYSTKO ZAREJESTRUJĄ! Dziękujemy za umówienie się na spotkanie!
Wyślemy Ci bilety Booth przez e -mail po zweryfikowaniu Twojej rezerwacji.
Dom > Produkty > Układy scalone > Logika - Logika Specjalna > SN74BCT8373ADWR
RFQs/ZAMÓWIENIE (0)
polski
polski
6646755

SN74BCT8373ADWR

Poproś o wycenę

Wypełnij wszystkie wymagane pola za pomocą danych kontaktowych. Kliknij „Prześlij RFQ”Lub napisz do nas:info@ftcelectronics.com
Zapytanie online
Specyfikacje
  • Part Number
    SN74BCT8373ADWR
  • Producent / marka
  • Wielkość zbiorów
    Na stanie
  • Opis
    IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC
  • Stan ołowiu / status RoHS
    Bezołowiowa / zgodna z RoHS
  • Źródło napięcia
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Dostawca urządzeń Pakiet
    24-SOIC
  • Seria
    74BCT
  • Opakowania
    Tape & Reel (TR)
  • Package / Case
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • temperatura robocza
    0°C ~ 70°C
  • Liczba bitów
    8
  • Rodzaj mocowania
    Surface Mount
  • Poziom czułości na wilgoć (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Logic Type
    Scan Test Device with D-Type Latches
  • Status bezołowiowy / status RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • szczegółowy opis
    Scan Test Device with D-Type Latches IC 24-SOIC
  • Podstawowy numer części
    74BCT8373
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8374ANTG4

SN74BCT8374ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8245ADW

SN74BCT8245ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8374ADWRG4

SN74BCT8374ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8374ADWRE4

SN74BCT8374ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8374ANT

SN74BCT8374ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74CB3Q16210DGGR

SN74CB3Q16210DGGR

Opis: IC SWITCH BUS 20BIT FET 48-TSSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie

Wybierz język

Kliknij przestrzeń, aby wyjść