Dla odwiedzających w Electronica 2024

Zarezerwuj swój czas teraz!

Wystarczy kilka kliknięć, aby zarezerwować twoje miejsce i zdobyć bilet na stoisko

Hall C5 Booth 220

Rejestracja z wyprzedzeniem

Dla odwiedzających w Electronica 2024
WSZYSTKO WSZYSTKO ZAREJESTRUJĄ! Dziękujemy za umówienie się na spotkanie!
Wyślemy Ci bilety Booth przez e -mail po zweryfikowaniu Twojej rezerwacji.
Dom > Produkty > Zintegrowane obwody (ICS) > Logika - Logika Specjalna > SN74BCT8245ADW
RFQs/ZAMÓWIENIE (0)
polski
polski
1319632

SN74BCT8245ADW

Poproś o wycenę

Wypełnij wszystkie wymagane pola za pomocą danych kontaktowych. Kliknij „Prześlij RFQ”Lub napisz do nas:info@ftcelectronics.com

Cena referencyjna (w dolarach amerykańskich)

Na stanie
50+
$9.999
Zapytanie online
Specyfikacje
  • Part Number
    SN74BCT8245ADW
  • Producent / marka
    Luminary Micro/Texas Instruments
  • Wielkość zbiorów
    Na stanie
  • Opis
    IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC
  • Stan ołowiu / status RoHS
    Bezołowiowa / zgodna z RoHS
  • Model ECAD
  • Źródło napięcia
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Dostawca urządzeń Pakiet
    24-SOIC
  • Seria
    74BCT
  • Opakowania
    Tube
  • Package / Case
    24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
  • Inne nazwy
    SN74BCT8245ADWE4
    SN74BCT8245ADWE4-ND
    SN74BCT8245ADWG4
    SN74BCT8245ADWG4-ND
  • temperatura robocza
    0°C ~ 70°C
  • Liczba bitów
    8
  • Rodzaj mocowania
    Surface Mount
  • Poziom czułości na wilgoć (MSL)
    1 (Unlimited)
  • Standardowy czas oczekiwania producenta
    6 Weeks
  • Logic Type
    Scan Test Device with Bus Transceivers
  • Status bezołowiowy / status RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • szczegółowy opis
    Scan Test Device with Bus Transceivers IC 24-SOIC
  • Podstawowy numer części
    74BCT8245

Unleashing High-Performance DSP: A Deep Dive into TI TMS320...

2024/11/15

Texas Instruments: An all-round player from analog to embedded

2024/11/14
Wysyłka
Zapłata
Poniżej znajdują się produkty związane z „SN74BCT8245ADW”.
SN74BCT8240ANT

SN74BCT8240ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8244ADW

SN74BCT8244ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8373ADWR

SN74BCT8373ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8373ADW

SN74BCT8373ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8374ADW

SN74BCT8374ADW

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8245ANTG4

SN74BCT8245ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8373ADWRG4

SN74BCT8373ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8240ADWR

SN74BCT8240ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8374ADWR

SN74BCT8374ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE W/FF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8240ADWRG4

SN74BCT8240ADWRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 24SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8244ADWR

SN74BCT8244ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8244ANTG4

SN74BCT8244ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8240ADWRE4

SN74BCT8240ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8245ADWR

SN74BCT8245ADWR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8373ANT

SN74BCT8373ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8245ANT

SN74BCT8245ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE TXRX 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8240ANTG4

SN74BCT8240ANTG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8244ADWE4

SN74BCT8244ADWE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8373ADWRE4

SN74BCT8373ADWRE4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE LATCH 24SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
SN74BCT8244ANT

SN74BCT8244ANT

Opis: IC SCAN TEST DEVICE BUFF 24-DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
RFQ
Jako jedyny publiczny dystrybutor rynku, mamy unikalną kombinację globalnego dostępu, wiedzy w branży produkcyjnej i sprawdzonej jakości.Dzięki temu możemy tworzyć spersonalizowane, kompleksowe rozwiązania łańcucha dostaw do pozyskiwania komponentów elektronicznych i zarządzania zapasami.
Podążaj za nami
Zasady i WarunkiPolityka naruszeniaPoprosić o wycenęO nasSkontaktuj się z namiAktualnościMapa witryny

Wybierz język

Kliknij przestrzeń, aby wyjść

Obecny język

Wybierz swój kraj lub region.