Dla odwiedzających w Electronica 2024

Zarezerwuj swój czas teraz!

Wystarczy kilka kliknięć, aby zarezerwować twoje miejsce i zdobyć bilet na stoisko

Hall C5 Booth 220

Rejestracja z wyprzedzeniem

Dla odwiedzających w Electronica 2024
WSZYSTKO WSZYSTKO ZAREJESTRUJĄ! Dziękujemy za umówienie się na spotkanie!
Wyślemy Ci bilety Booth przez e -mail po zweryfikowaniu Twojej rezerwacji.
Dom > Produkty > Układy scalone > Logika - Logika Specjalna > SN74ABT18504PMRG4
RFQs/ZAMÓWIENIE (0)
polski
polski
2159781

SN74ABT18504PMRG4

Poproś o wycenę

Wypełnij wszystkie wymagane pola za pomocą danych kontaktowych. Kliknij „Prześlij RFQ”Lub napisz do nas:info@ftcelectronics.com
Zapytanie online
Specyfikacje
  • Part Number
    SN74ABT18504PMRG4
  • Producent / marka
  • Wielkość zbiorów
    Na stanie
  • Opis
    IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP
  • Stan ołowiu / status RoHS
    Bezołowiowa / zgodna z RoHS
  • Źródło napięcia
    4.5 V ~ 5.5 V
  • Dostawca urządzeń Pakiet
    64-LQFP (10x10)
  • Seria
    74ABT
  • Opakowania
    Tape & Reel (TR)
  • Package / Case
    64-LQFP
  • temperatura robocza
    -40°C ~ 85°C
  • Liczba bitów
    20
  • Rodzaj mocowania
    Surface Mount
  • Poziom czułości na wilgoć (MSL)
    3 (168 Hours)
  • Logic Type
    Scan Test Device with Universal Bus Transceivers
  • Status bezołowiowy / status RoHS
    Lead free / RoHS Compliant
  • szczegółowy opis
    Scan Test Device with Universal Bus Transceivers IC 64-LQFP (10x10)
  • Podstawowy numer części
    74ABT18504
SN74ABT2240ADW

SN74ABT2240ADW

Opis: IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18640DL

SN74ABT18640DL

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT2240AN

SN74ABT2240AN

Opis: IC BUFFER INVERT 5.5V 20DIP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18245ADGGR

SN74ABT18245ADGGR

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18504PMG4

SN74ABT18504PMG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT2240ADWR

SN74ABT2240ADWR

Opis: IC BUFFER INVERT 5.5V 20SOIC

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18640DLR

SN74ABT18640DLR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT16952DLRG4

SN74ABT16952DLRG4

Opis: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56SSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18652PM

SN74ABT18652PM

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18646PM

SN74ABT18646PM

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18502PM

SN74ABT18502PM

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18502PMR

SN74ABT18502PMR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 64LQFP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT16952DLR

SN74ABT16952DLR

Opis: IC TXRX NON-INVERT 5.5V 56SSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18245ADL

SN74ABT18245ADL

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18640DLRG4

SN74ABT18640DLRG4

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 18BIT 56SSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18640DGGR

SN74ABT18640DGGR

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18245ADLR

SN74ABT18245ADLR

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-SSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT2240ADBR

SN74ABT2240ADBR

Opis: IC BUFFER INVERT 5.5V 20SSOP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18504PM

SN74ABT18504PM

Opis: IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie
SN74ABT18504PMR

SN74ABT18504PMR

Opis: IC SCAN TEST DEVICE 20BIT 64LQFP

Producenci: Luminary Micro / Texas Instruments
Na stanie

Wybierz język

Kliknij przestrzeń, aby wyjść